[发明专利]一种金属表面薄液膜生成、控制及测量方法

摘要

本发明公开了一种金属表面薄液膜生成、控制及测量方法，其特征在于：包括薄液膜生成装置、样品台、薄液膜厚度检测装置、控制计算机；其中所述薄液膜生成装置包括带有雾化器的箱体，在所述箱体内设有储液槽，所述储液槽通过泵与雾化器的壳体连接，所述壳体还连接有压缩空气，与所述压缩空气相对的另一侧壳体上设置有雾流管道，所述雾流管道伸出箱体并对准样品台；在所述样品台上设置有样品放置区，且所述样品放置区与雾流管道的出口相对，所述样品台具有可调倾角。采用本发明的设备，可在金属表面生成厚度可控且稳定的薄液膜。

主权项

1.一种金属表面薄液膜生成、控制及测量方法，其特征在于：包括薄液膜生成装置、样品台、薄液膜厚度检测装置、控制计算机；其中，所述薄液膜生成装置生成雾流并通过雾流管道向金属样品吹入，所述样品台上设置有样品放置区且所述样品台具有可调节的倾角，所述薄液膜厚度检测装置包括设置在样品台上的三坐标控制仪以及设置在控制仪上的光纤光谱仪的光纤探头，所述光纤光谱仪的软件装入控制计算机；并按照以下步骤进行薄液膜的生成：第一步：在样品台上的样品放置区安放金属样品；第二步：开启薄液膜生成装置产生雾流并向样品台上放置的金属样品表面吹入，第三步：调节薄液膜生成装置的雾流的雾化量为2.5kg/h～4.5kg/h，出雾气压0.1～0.15 Mpa，样品台倾角为0～60°；第四步：通过控制计算机控制三坐标控制仪进而调整光纤探头的位置，运行光纤光谱仪控制软件，调整光纤探头位置，优化信号强度；第五步：通过控制出雾量、样品台倾角控制液膜厚度变化；通过光纤光谱仪对液膜厚度进行实时测量，并记录检测数据。