[发明专利]一种高压发光二极管芯片及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201811628328.2 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN109786419B 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 兰叶;顾小云;吴志浩 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L33/00;H01L33/06;H01L33/14;H01L33/46
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种高压发光二极管芯片及其制作方法,属于半导体技术领域。方法包括:在衬底上依次生长N型半导体层、有源层和P型半导体层;在P型半导体层上开设延伸至N型半导体层的第一凹槽;在N型半导体层上开设延伸至衬底的第二凹槽;在第二凹槽内、以及第二凹槽周围的N型半导体层和P型半导体层上铺设绝缘层;在绝缘层上沉积氧化硼硅并加热软化,形成台阶舒缓层,台阶舒缓层的上表面的连接端面与下水平端面之间的夹角为钝角;在台阶舒缓层上设置连接电极,连接电极的一端延伸至N型半导体层上,连接电极的另一端延伸至P型半导体层上,并在N型半导体层上设置N型电极,P型半导体层上设置P型电极。本发明通过可以提高芯片的可靠性。
搜索关键词: 一种 高压 发光二极管 芯片 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种高压发光二极管芯片的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括:在衬底上依次生长N型半导体层、有源层和P型半导体层;在所述P型半导体层上开设延伸至所述N型半导体层的第一凹槽;在所述第一凹槽内的N型半导体层上开设延伸至所述衬底的第二凹槽;在所述第二凹槽内、以及所述第二凹槽周围的N型半导体层和P型半导体层上铺设绝缘层;在所述绝缘层上沉积氧化硼硅并加热软化,形成台阶舒缓层,所述台阶舒缓层的上表面包括上水平端面、下水平端面、以及所述上水平端面和所述下水平端面的连接端面,所述连接端面与所述下水平端面之间的夹角为钝角;在所述台阶舒缓层上设置连接电极,所述连接电极的一端延伸至所述台阶舒缓层周围的N型半导体层上,所述连接电极的另一端延伸至所述台阶舒缓层周围的P型半导体层上,并在未设置所述连接电极的N型半导体层上设置N型电极,未设置所述连接电极的P型半导体层上设置P型电极。
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