[发明专利]功率半导体器件特性统计学测试方法有效
| 申请号： | 201811628403.5 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109765471B | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 马柯;林家扬;朱晔 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 徐红银 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种功率半导体器件特性统计学测试方法，包括：在一个测试周期内测试设定电流值下开关管的开关特性、导通特性以及二极管的导通特性、恢复特性；可通过循环测试模式获得多组特性数据，通过计算得到设定电压、温度、电流等级下的器件特性概率密度函数；从而可通过变量测试模式，控制电压、温度、电流中的两项为定值，改变其中一项进行连续多周期测试，得到该变量各等级下的器件特性的概率密度函数，并根据置信区间绘制出以概率分布带，代替传统单一曲线的特性‑电流图、特性‑电压图、特性‑温度图，使得功率半导体器件特性的数据具有统计学规律。 | ||
| 搜索关键词： | 功率 半导体器件 特性 统计学 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种功率半导体器件特性统计学测试方法，其特征在于，包括：设定测试周期和待测试的电压、电流、温度等级；在一个测试周期内，测试设定条件下被测模块中开关管的开关特性、导通特性，以及二极管的恢复特性、导通特性；通过循环测试多个测试周期，得到预设电压、温度、电流条件下，功率半导体器件特性的多组特性数据；根据该多组特性数据，得到预设条件下功率半导体器件特性数据的概率密度函数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学，未经上海交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811628403.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
