[发明专利]一种金属微/纳米线阵列及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201811631648.3 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN109795975A 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 郝宗斌;傅欣欣;张良;葛海雄;袁长胜;崔玉双 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: B81B3/00 分类号: B81B3/00;B81C1/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 李静
地址: 210046 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于微纳加工技术领域,具体涉及一种金属微/纳米线阵列及其制备方法。该金属微/纳米线阵列包括支撑层金属薄片和竖立在所述金属薄片上的金属微/纳米线。该金属微/纳米线阵列具有大的深宽比,且该金属微/纳米线的直径、高度和金属薄片的厚度可以精确控制;金属微/纳米线直接竖立在金属薄片上,相互之间无交叉和重叠,提高了比表面积和重复利用率;该金属微/纳米线阵列可以应用于制备大深宽比、柔性的纳米器件。该制备方法以具有较好刚性和刻蚀稳定性的材料为衬底,可以保证刻蚀过程中不易出现坍塌等问题,得到高深宽比的微/纳米线阵列;此外,本方法可以通过控制刻蚀时间,精确控制微/纳米线的高度。
搜索关键词: 纳米线阵列 金属 金属薄片 纳米线 制备 深宽比 竖立 微纳加工技术 刻蚀稳定性 重复利用率 高深宽比 刻蚀过程 纳米器件 支撑层 衬底 刻蚀 坍塌 应用 保证
【主权项】:
1.一种金属微/纳米线阵列,其特征在于,包括支撑层金属薄片和竖立在所述支撑层金属薄片上的金属微/纳米线;其中,所述微/纳米线的高度与直径之间的比值为(5‑20):1。
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