[发明专利]一种基于空间光场的亮度测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201811632061.4 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109632092A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 张宇宁;李帅 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 刘渊
地址: 210088 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于空间光场的亮度测试系统及方法,利用传统亮度计的标定方法事先对CCD进行标定,以此计算关系为图像灰度与亮度的对应关系,进而通过光场重聚焦算法得到所需焦平面上的图像,再将其转换成相应平面上的亮度分布,通过调整重聚焦的相关参数可以得到不同焦平面的图像及其亮度分布,在测量亮度时不需要进行对焦,操作十分简便,并且可以快速、实时捕捉空间亮度信息,匹配不同的测量需求。
搜索关键词: 亮度测试 亮度分布 焦平面 空间光 标定 图像 测量需求 聚焦算法 亮度信息 图像灰度 相关参数 亮度计 对焦 光场 匹配 测量 捕捉 聚焦 转换
【主权项】:
1.一种基于空间光场的亮度测试系统,其特征在于,包括成像模块(1)和主机(2),所述成像模块(1)包括光轴平行的主透镜(3)和微透镜阵列(4),微透镜阵列(4)的另一侧设有光电耦合器(5),光电耦合器(5)所得信号数据再由主机(2)计算出空间光场的亮度。
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