[发明专利]可调节式探针装置在审

专利信息
申请号: 201811634639.X 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109459595A 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 陈相和 申请(专利权)人: 深圳市杰普特光电股份有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 逯恒
地址: 广东省深圳市龙华区观湖街道鹭*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及电学性能检测装置技术领域,尤其是涉及一种可调节式探针装置。可调节式探针装置包括底座、第一电路板、横向调节装置、第一纵向调节装置和多根检测探针;检测探针与第一电路板可拆卸连接;第一电路板与第一纵向调节装置连接;第一纵向调节装置与横向调节装置连接;横向调节装置与底座连接。本发明提供的可调节式探针装置,通过将检测探针可拆卸的设置在电路板上,使得既能够改变检测探针的数量,又能够根据检测探针的安装位置,改变检测探针的间距,在进行电学性能检测时,不需要制备多个探针台,减少了使用成本;通过纵向调节装置和横向调节装置的设置,使得检测探针的检测位置调节方便,增加了探测范围。
搜索关键词: 检测探针 横向调节装置 纵向调节装置 电路板 可调节式 探针装置 电学性能检测 改变检测 探针 装置技术领域 可拆卸连接 底座连接 调节方便 检测位置 可拆卸的 探针台 底座 制备 探测
【主权项】:
1.一种可调节式探针装置,其特征在于,包括底座、第一电路板、横向调节装置、第一纵向调节装置和多根检测探针;所述检测探针与所述第一电路板可拆卸连接;所述第一电路板与所述第一纵向调节装置连接;所述第一纵向调节装置与所述横向调节装置连接;所述横向调节装置与所述底座连接。
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