[发明专利]存储系统和存储系统的操作方法有效
| 申请号： | 201811634890.6 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN110362420B | 公开（公告）日： | 2023-06-16 |
| 发明（设计）人： | 郭康燮;金起业;尹荣俊 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 许伟群;郭放 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了存储系统及存储系统的操作方法。存储系统包括：存储单元阵列，其适用于储存第一数据和用于校正第一数据的错误的第一奇偶校验位；以及错误校正电路，其适用于：产生第二预奇偶校验位，第二预奇偶校验位包括第一子奇偶校验位和第二子奇偶校验位；通过对校正子进行解码来产生第一奇偶校验位错误标志和第一数据错误标志；基于第一奇偶校验位错误标志来校正第一奇偶校验位的错误；基于用于产生第二子奇偶校验位的第一数据的错误信息来产生第二子奇偶校验位错误标志；以及基于第二子奇偶校验位错误标志来校正第二子奇偶校验位的任何错误。 | ||
| 搜索关键词： | 存储系统 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储系统，包括：存储单元阵列，其适用于储存第一数据和第一奇偶校验位，所述第一奇偶校验位用于校正所述第一数据的错误；以及错误校正电路，其适用于产生第二数据和第二奇偶校验位，所述第二奇偶校验位包括通过校正所述第一奇偶校验位的错误而得到的比特位和通过校正第二子奇偶校验位的错误而得到的比特位；其中，所述错误校正电路包括：单错误校正和双错误检测SECDED奇偶校验位发生器，其适用于产生第二预奇偶校验位，所述第二预奇偶校验位包括第一子奇偶校验位和第二子奇偶校验位；校正子解码器，其适用于通过对校正子进行解码来产生第一奇偶校验位错误标志和第一数据错误标志；SEC奇偶校验位校正器，其适用于基于所述第一奇偶校验位错误标志来校正所述第一奇偶校验位的错误；DED奇偶校验位错误检测器，其适用于基于用于产生所述第二子奇偶校验位的第一数据的错误信息来产生第二子奇偶校验位错误标志；以及DED奇偶校验位校正器，其适用于基于所述第二子奇偶校验位错误标志来校正所述第二子奇偶校验位的任何错误。
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