[发明专利]一种利用纳米光纤谐振腔实现全光量化的装置及方法

摘要

本发明涉及一种新型高效率实现全光量化的方法，具体为一种利用纳米光纤谐振腔实现全光量化的装置及方法，解决了现有全光量化装置复杂、光子耦合效率低、量化速率慢的问题。一种利用纳米光纤谐振腔实现全光量化的装置及方法，包括如下步骤：构建纳米光纤谐振腔；纳米光纤谐振腔实现全光量化系统；用单光子探测器测量纳米光纤上不同位置量子点的光子计数率实现3位量化。本发明装置结构简单，突破了现有全光量化技术成本较高、设定比较器阈值会影响量化精度的技术缺点，有望实现高效率、高精度的全光量化，可广泛适用于高速光信息处理及光域中光纤通信方面。

主权项

1.一种利用纳米光纤谐振腔实现全光量化的装置，其特征在于，包括外置耦合光栅（1）、纳米光纤（2）和用于发射捕获光的第一激光源（4）；由布拉格光栅组成的外置耦合光栅（1）水平置于基底的上面，纳米光纤（2）在腰部区域具有亚波长直径，水平镶嵌于外置耦合光栅（1）正上方，形成纳米光纤谐振腔；还包括沿纳米光纤（2）轴线走向水平放置在纳米光纤（2）腰部中央上侧的2n个荧光量子点（3），n为≥1的正整数，2n个荧光量子点（3）互不相同；第一激光源（4）位于荧光量子点（3）正上方且其出射端朝向荧光量子点（3）；纳米光纤（2）的输出端通过第二单模光纤（11）连接有单光子探测器（12），单光子探测器（12）的信号输出端连接有数据采集系统（13）。