[发明专利]平面测距方法及系统和机械手调校平面的方法及系统在审

专利信息
申请号: 201811638463.5 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN111376254A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 孙双立 申请(专利权)人: 上海葩弥智能科技有限公司
主分类号: B25J9/16 分类号: B25J9/16;B25J19/00
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 薛琦;罗朗
地址: 201799 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种平面测距方法及系统和机械手调校平面的方法及系统,其中平面测距方法包括S1、图像采集设备采集平面上标定块的图像,所述标定块中设置有两个标定标记;S2、计算所述图像中所述标定标记之间的像素距离;S3、根据直线方程计算所述图像采集设备与所述平面之间的垂直距离,所述直线方程为:其中为计算得到的所述图像采集设备垂直于所述平面的垂直距离,x为两个所述标定标记之间的像素距离,为所述直线方程的最优参数。本发明通过平面测距方法获得图像采集设备位置与调校平面的位置关系,从而可用于机械手示教平台,示教无需手动测量,且标定误差非常小。
搜索关键词: 平面 测距 方法 系统 机械手 调校
【主权项】:
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