[发明专利]亚微米流道微流控芯片的制作方法有效
申请号: | 201811639484.9 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109590037B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 段学欣;刘建涛;韩子钰;陈雪娇;刘展宁 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | B01L3/00 | 分类号: | B01L3/00 |
代理公司: | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人: | 韩登营;曲芳兵 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种亚微米流道微流控芯片的制作方法,包括步骤:A、在一基底上沉积用作底电极的金属钼;并刻蚀出指定形状的底电极;B、在底电极上沉积覆盖整个基底的氮化铝薄膜;C、在氮化铝薄膜上沉积覆盖整个基底的PSG,并利用反应离子刻蚀方法刻蚀PSG以刻蚀出流道的形状,将刻蚀后剩余的PSG作为流道牺牲层;D、在流道牺牲层上沉积覆盖整个基底的氮化铝薄膜;并在其上沉积用作顶电极的金属钼;并刻蚀出指定形状的顶电极;E、在顶电极上沉积覆盖整个基底的氮化铝薄膜作为流道结构层,并在其上刻蚀出流道出入口;G、利用氢氟酸溶液释放流道牺牲层,以获取亚微米流道微流控芯片;其中,顶电极与底电极成对设置,且均与流道牺牲层重叠设置。由上,本申请可以实现精准地制备目标亚微米流道微流控芯片。 | ||
搜索关键词: | 微米 流道微流控 芯片 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种亚微米流道微流控芯片的制作方法,其特征在于,包括步骤:A、在一基底上沉积用作底电极的金属钼;并刻蚀出指定形状的底电极;B、在所述底电极上沉积覆盖整个基底的氮化铝薄膜;C、在所述氮化铝薄膜上沉积覆盖整个基底的PSG,并利用反应离子刻蚀方法刻蚀PSG以刻蚀出流道的形状,将刻蚀后的PSG作为流道牺牲层;D、在所述流道牺牲层上沉积覆盖整个基底的氮化铝薄膜;并在其上沉积用作顶电极的金属钼;并刻蚀出指定形状的顶电极;E、在所述顶电极上沉积覆盖整个基底的氮化铝薄膜作为流道结构层,并在其上刻蚀出流道出入口;G、利用氢氟酸溶液释放所述流道牺牲层,以获取亚微米流道微流控芯片;其中,所述顶电极与所述底电极成对设置,且均与所述流道牺牲层重叠设置。
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