[发明专利]农产品农残快速检测方法以及检测用层叠体有效
申请号: | 201811640061.9 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109799201B | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 孙常库;刘啸虎;赵彩新;胡渭 | 申请(专利权)人: | 芯视界(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;C08F120/14;C08F2/48 |
代理公司: | 11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种农产品农残快速检测方法以及检测用层叠体,针对目前现有检测农产品农残过程复杂的现状,基于分子印迹以及光子晶体,提供一种快速、稳定的检测农产品农残的方法,所述方法具有使用方便、低成本的优点。 | ||
搜索关键词: | 农残 农产品 检测 快速检测 层叠体 分子印迹 光子晶体 低成本 | ||
【主权项】:
1.一种农产品农残快速检测方法,其特征在于,所述方法包括:/n标准曲线制备/n测定n个吸附不同量的农残化合物的分子印迹光子晶体膜的吸收峰,并记录这些吸收峰相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量,所述n≥3,/n建立所述变化量与所述不同浓度的线性关系曲线,得到标准曲线;/n待测农残取样/n使用分子印迹光子晶体膜与待测农产品规定区域表面接触,得到吸收了农残化合物的分子印迹光子晶体膜;/n农残检测/n使用便携式光谱仪收集所述吸收了农残化合物的分子印迹光子晶体膜的吸收光谱,并根据其相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量与所述标准曲线进行对比,/n在所述标准曲线制备中,测定n个经过含有不同浓度的农残化合物水溶液浸渍过的分子印迹光子晶体膜的吸收峰,并记录这些吸收峰相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量,所述不同浓度的浓度范围为10
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