[发明专利]超导带材电流均匀性测试装置及标定方法在审

专利信息
申请号: 201811643117.6 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109709501A 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 朱佳敏;赵跃;陈思侃;甄水亮;丁逸珺;夏慧能;陈永春;连亚博;洪智勇 申请(专利权)人: 上海超导科技股份有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 201207 上海市浦东新区自由*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种超导带材电流均匀性测试装置及标定方法,其中测试装置用于测试超导带材(4)的电流均匀性,包括临界电流测试架(1)、导电片(3)以及电压引线探针(6);所述导电片(3)包覆在临界电流测试架(1)两端;所述超导带材(4)两端分别与设置在电流测试架(1)两端的导电片(3)电连接;所述电压引线探针(6)的一端压接在超导带材(4)表面。本发明提供的装置结构简单、成本低、测试效率高,能够简易快速的在不破坏超导带材的情况下能实现对带材短样上临界电流分布的测试;本发明提供的方法,与磁测法对应程度优秀,有效提升了测试效率、简化了测试过程的耗时和人力资源成本。
搜索关键词: 超导带材 电流均匀性 测试装置 导电片 临界电流测试 测试效率 电压引线 标定 探针 人力资源成本 测试 测试过程 电流测试 临界电流 装置结构 电连接 包覆 带材 短样 压接 耗时 简易
【主权项】:
1.一种超导带材电流均匀性测试装置,用于测试超导带材(4)的电流均匀性,其特征在于,包括临界电流测试架(1)、导电片(3)以及电压引线探针(6);所述导电片(3)包覆在临界电流测试架(1)两端;所述超导带材(4)两端分别与设置在电流测试架(1)两端的导电片(3)电连接;所述电压引线探针(6)的一端压接在超导带材(4)表面。
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