[发明专利]一种非直接电接触式的发光二极管器件的电致发光量测方法

摘要

本发明公开了一种非直接电接触式的发光二极管器件的电致发光量测方法，包括如下步骤：步骤S1、将所述发光二极管器件置于量测系统的所述基板上，且将所述发光二极管器件的一极性电极和所述基板上的接触电极的电性相连接；步骤S2、将所述发光二极管器件的另一极性电极和量测系统的所述非直接电接触式电极的电性相连接；步骤S3、将所述非直接电接触式电极连接电源，提供电子或电流进入所述发光二极管器件导致电致发光时，使用所述光探测器记录电致发光的量测结果。本发明的优点在于：采用带电粒子产生器或场板电极分别通过真空或导电溶液向所述发光二极管器件注入电子或电流，实现所述发光二极管器件电致发光的量测，一方面可同时进行两个以上发光二极管器件电致发光的量测，另一方面不使用探针，降低量测的成本。

主权项

1.一种非直接电接触式的发光二极管器件的电致发光量测方法，包括量测系统和发光二极管器件，其特征在于：所述量测系统包括基板、光探测器和非直接电接触式电极，所述基板上设置有接触电极；所述发光二极管器件包括第一极性电极、第一极性半导体层、发光层、第二极性半导体层和第二极性电极，所述发光层位于第一极性半导体层和第二极性半导体层之中，所述第一极性半导体层和第二极性半导体层的极性不同，所述第一极性电极设置在第一极性半导体层上，所述第二极性电极设置在第二极性半导体层上；所述方法包括以下步骤：步骤S1、将所述发光二极管器件置于量测系统的所述基板上，且所述发光二极管器件的第一极性电极和所述基板上设置的接触电极的电性相连接；步骤S2、将所述发光二极管器件的第二极性电极和量测系统的所述非直接电接触式电极的电性相连接，且所述第一极性电极与所述接触电极，和所述第二极性电极与所述非直接电接触式电极之间电性绝缘；步骤S3、将所述非直接电接触式电极连接电源，提供电子或电流进入所述发光二极管器件导致电致发光时，使用所述光探测器记录电致发光的量测结果，完成所述发光二极管器件电致发光的量测。