[发明专利]X射线双相位光栅相衬成像系统在审

专利信息
申请号: 201811647639.3 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109557116A 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 李冀;雷耀虎;黄建衡;刘鑫 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N23/041 分类号: G01N23/041
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 代理人: 张秋红;郭方伟
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种X射线双相位光栅相衬成像系统,包括沿X射线发射方向依次设置的X射线管、源光栅G0、相位光栅和X射线探测器,所述相位光栅包括间隔设置第一相位光栅G1和第二相位光栅G′1,所述第一相位光栅G1、第二相位光栅G′1位于源光栅G0和X射线探测器之间,在第一相位光栅G1后形成自成像次级源G2;所述X射线管发出的X射线、源光栅G0与第一相位光栅G1组成一个泰伯劳系统;所述自成像次级源G2与第二相位光栅G′1组成逆泰伯劳系统。本发明的系统能够避免小周期、高深宽比的源光栅和大面积、小周期、高深宽比吸收光栅的使用,降低光栅相衬成像系统的实现难度。
搜索关键词: 相位光栅 源光栅 相衬成像系统 高深宽比 次级源 自成像 光栅相衬成像 间隔设置 吸收光栅 依次设置
【主权项】:
1.一种X射线双相位光栅相衬成像系统,包括沿X射线发射方向依次设置的X射线管、源光栅G0、相位光栅和X射线探测器,其特征在于,所述相位光栅包括间隔设置第一相位光栅G1和第二相位光栅G′1,所述第一相位光栅G1、第二相位光栅G′1位于源光栅G0和X射线探测器之间,在第一相位光栅G1后形成自成像次级源G2;所述X射线管发出的X射线、源光栅G0与第一相位光栅G1组成一个泰伯劳系统;所述自成像次级源G2与第二相位光栅G′1组成逆泰伯劳系统。
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