[发明专利]一种超低频频率响应分析器相角校准装置在审

专利信息
申请号: 201811648960.3 申请日: 2018-12-30
公开(公告)号: CN109884567A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 王兵;张鹏程;高翌春;刘晓旭;印朝辉;张修建;张铁犁 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京国之大铭知识产权代理事务所(普通合伙) 11565 代理人: 李卉
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种超低频频率响应分析器相角校准装置,属于专用测试设备计量技术领域,包括输入输出信号调理模块和多组频率及移相模块两部分,所述的输入输出信号调理模块与所述多组频率及移相模块通过测试线缆相连接。本发明公开的超低频频率响应分析器相角校准装置,克服现有校准手段存在频响分析器相角校准无法完全覆盖实际使用的频率及相角范围,与常规频响分析仪校准方法不完全符合的问题,实现伺服单元测试仪频率响应特性的量值溯源,移相准确度优于±0.25°。
搜索关键词: 相角校准 分析器 频率响应 超低频 调理模块 输出信号 移相模块 频响 计量技术领域 频率响应特性 专用测试设备 分析仪校准 准确度 测试线缆 量值溯源 伺服单元 校准 测试仪 相角
【主权项】:
1.一种超低频频率响应分析器相角校准装置,其特征在于:包括输入输出信号调理模块和多组频率及移相模块两部分,所述的输入输出信号调理模块与所述多组频率及移相模块通过测试线缆相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院,未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811648960.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top