[发明专利]一种原位生长Al等离激元提高AlGaN基PIN型探测器性能的方法在审

专利信息
申请号: 201811653058.0 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109713083A 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 孙晓娟;吴忧;黎大兵;石芝铭;贾玉萍 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/105;H01L31/0232;B82Y20/00
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 刘微
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种原位生长Al等离激元提高AlGaN基PIN型探测器性能的方法,属于半导体技术领域。本方法主要解决了现有技术手段难以将Al等离激元制备到PIN结构AlGaN探测器本征吸收层,无法实现PIN结构AlGaN基紫外探测器增强的问题。该方法包括在衬底上生长AlN模板层;在AlN模板层上生长n‑AlGaN外延层;在n‑AlGaN外延层上生长含有Al纳米颗粒的i‑AlGaN外延层等步骤。本发明充分利用Al等离激元对AlGaN探测器性能的增强作用,在难以提高AlGaN材料质量的情况下,为高灵敏度AlGaN紫外探测器的实现提供了新途径,而且工艺简单,结构新颖,可大面积应用,具有广阔的应用前景。
搜索关键词: 等离激元 探测器 紫外探测器 原位生长 生长 半导体技术领域 本征吸收层 高灵敏度 技术手段 纳米颗粒 新途径 衬底 制备 应用
【主权项】:
1.一种原位生长Al等离激元提高AlGaN基PIN型探测器性能的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一、在衬底上生长AlN模板层;步骤二、在AlN模板层上生长n‑AlGaN外延层;步骤三、在n‑AlGaN外延层上生长含有Al纳米颗粒的i‑AlGaN外延层;步骤四、在i‑AlGaN外延层上生长p‑AlGaN外延层,完成器件结构生长;步骤五、利用光刻技术获得探测器的掩膜图形,利用刻蚀技术做出器件台面;步骤六、通过真空蒸发技术制备金属电极;步骤七、利用Lift Off技术去除多余金属,获得探测器结构;步骤八、电极退火,完成探测器制备。
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