[发明专利]毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法在审
申请号: | 201811654178.2 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109856696A | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 赵自然;游燕;李元景;马旭明;武剑 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01V8/22 | 分类号: | G01V8/22;G01V8/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张启程 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法,其包括准光学组件,用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列,并包括反射板;探测器阵列,用于接收来自准光学组件的波束;以及反射板调节装置,其包括旋转机构,用于驱动反射板在水平方向旋转运动,使得反射板对被检对象位于视场不同水平位置部分的波束进行反射,和俯仰摆动机构,用于驱动反射板在竖直方向俯仰摆动,当反射板在旋转机构带动下每旋转一定角度,俯仰摆动机构驱动反射板在竖直方向俯仰摆动,使得反射板对来自被检对象位于视场不同竖直位置的部分的波束进行反射,从而使得采样密集点集中在全视场中间,且在视场的大部分区域,采样点排布均匀。 | ||
搜索关键词: | 反射板 波束 俯仰摆动 反射 视场 太赫兹波成像 探测器阵列 毫米波 物品检测 旋转机构 准光学 竖直 水平方向旋转运动 驱动 调节装置 机构驱动 竖直位置 自发辐射 采样点 全视场 采样 排布 汇聚 | ||
【主权项】:
1.一种毫米波/太赫兹波成像设备,其包括:准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和反射板调节装置,所述准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列,并包括适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板;所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束;以及所述反射板调节装置包括:旋转机构,所述旋转机构适用于驱动所述反射板在水平方向上旋转运动,以使得所述反射板对所述被检对象位于视场不同水平位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射,和俯仰摆动机构,所述俯仰摆动机构适用于驱动所述反射板在竖直方向上俯仰摆动,以当所述反射板在所述旋转机构的带动下每旋转一定角度,所述俯仰摆动机构驱动所述反射板在竖直方向上进行俯仰摆动,以使得所述反射板对所述被检对象位于所述视场不同竖直位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射。
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