[实用新型]一种大米谷粒精白度测量仪

摘要

本实用新型公开了一种大米谷粒精白度测量仪，包括测样主机，所述测样主机右侧设有进样操控柱，所述测样主机底部设有样品承接料斗，所述样品承接料斗底部设有LED激发测量光源，所述LED激发测量光源底部设有数控传感器，所述数控传感器正面设有参数设置按钮，所述测样主机左侧设有米粒分离机，所述米粒分离机上表面设有筛料管，所述筛料管右侧设有控制传感器，所述控制传感器底部设有散热风机，所述散热风机底部设有防震缓冲垫，所述防震缓冲垫左侧设有碾米机，所述碾米机上表面设有翻转碾白轴，所述翻转碾白轴上表面设有杂物出料筒。该种大米谷粒精白度测量仪结构简单，功能实用，能满足食品生产行业对大米谷粒精白度测量仪的实用需求。

主权项

1.一种大米谷粒精白度测量仪，包括测样主机(9)，其特征在于：所述测样主机(9)右侧设有进样操控柱(12)，所述测样主机(9)底部设有样品承接料斗(10)，所述样品承接料斗(10)底部设有LED激发测量光源(11)，所述LED激发测量光源(11)底部设有数控传感器(15)，所述数控传感器(15)正面设有参数设置按钮(13)，所述参数设置按钮(13)底部设有支撑底脚(14)，所述测样主机(9)左侧设有米粒分离机(8)，所述米粒分离机(8)上表面设有筛料管(6)，所述筛料管(6)右侧设有控制传感器(7)，所述控制传感器(7)底部设有散热风机(5)，所述散热风机(5)底部设有防震缓冲垫(3)，所述防震缓冲垫(3)左侧设有碾米机(1)，所述碾米机(1)上表面设有翻转碾白轴(2)，所述翻转碾白轴(2)上表面设有杂物出料筒(4)。