[实用新型]一种用于点源透过率测试的改进型腔体有效
| 申请号： | 201820061726.X | 申请日： | 2018-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN207742114U | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 李朝辉;李晓辉;赵建科;徐亮;刘峰;张玺斌;于敏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 汪海艳 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型属于光学系统杂散光测试领域，涉及一种用于点源透过率测试的改进型腔体。包括密封腔体及设置在密封腔体外部的光陷阱；密封腔体的侧壁由横截面为优弧的两个曲面对接而成；两个曲面的对接处设入光口；密封腔体的顶部与底部通过平板密封；光陷阱位于与入光口相对的两个曲面的对接处；光陷阱的横截面为等腰梯形。排除了PST测试结果中的“尖峰”噪点。 | ||
| 搜索关键词： | 密封腔体 光陷阱 点源透过率 对接处 改进型 入光口 腔体 本实用新型 测试 尖峰 测试领域 等腰梯形 光学系统 平板密封 杂散光 侧壁 优弧 噪点 外部 | ||
【主权项】：
1.一种用于点源透过率测试的改进型腔体，包括密封腔体及设置在密封腔体外部的光陷阱；密封腔体的侧壁由横截面为优弧的两个曲面对接而成；两个曲面的对接处设入光口；密封腔体的顶部与底部通过平板密封；其特征在于：所述光陷阱位于与入光口相对的两个曲面的对接处；所述光陷阱的横截面为等腰梯形。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201820061726.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种水质分析装置
- 下一篇：一种手持式荧光免疫分析仪
