[实用新型]芯片测试及加密系统有效
| 申请号： | 201820083631.8 | 申请日： | 2018-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN207965891U | 公开（公告）日： | 2018-10-12 |
| 发明（设计）人： | 张玲玲;赵东艳;张海峰;唐晓柯;袁远东;裴万里;关媛 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/60 | 分类号： | G06F21/60;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 周勇;王芳 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试及加密系统，芯片测试过程会产生芯片测试私有信息，所述芯片测试及加密系统包括机械手设备、加密机、测试机、主控制器。机械手设备用于取放被测芯片。加密机用于完成所述测试私有信息的第一加密过程。测试机用于被测芯片的测试。主控制器与所述机械手设备、所述测试机、所述加密机均相连，用于控制所述机械手设备、所述测试机、所述加密机的操作以及用于完成所述测试私有信息的第二加密过程。芯片测试与发行环节合二为一，可以大大缩短芯片测试发行时间，降低生产成本，而且降低芯片测试私有信息泄露的可能性，即便泄露，外界也无法破解真实信息从而有效的保护了芯片的私有信息安全。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片测试 私有信息 机械手设备 测试机 加密机 加密系统 被测芯片 加密过程 主控制器 测试 泄露 芯片测试过程 本实用新型 真实信息 发行 破解 取放 芯片 环节 安全 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试及加密系统，芯片测试过程会产生芯片测试私有信息，其特征在于，所述芯片测试及加密系统包括：机械手设备，用于取放被测芯片；加密机，用于完成所述测试私有信息的第一加密过程；测试机，用于被测芯片的测试；以及主控制器，与所述机械手设备、所述测试机、所述加密机均相连，用于控制所述机械手设备、所述测试机、所述加密机的操作以及完成所述测试私有信息的第二加密过程。
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