[实用新型]一种转盘式封装芯片检测机有效
申请号: | 201820249765.2 | 申请日: | 2018-02-11 |
公开(公告)号: | CN207925440U | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 李雄;刘远红;李保玉 | 申请(专利权)人: | 中山市三乐电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 李旭亮 |
地址: | 528400 *** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种转盘式封装芯片检测机,包括机架、控制装置、上料装置、检测装置和分拣卸料装置,在机架上设置有转盘以及用于驱动转盘旋转的旋转驱动装置,上料装置用于将待检测的芯片移送到转盘上,检测装置包括第一支架以及设置在第一支架上的摄像头,分拣卸料装置包括芯片摆盘装置以及用于剔除不合格芯片的分拣机构。本实用新型采用转盘式结构,可缩小本实用新型的整体体积,使得本实用新型结构紧凑,便于安装布置。另外,本实用新型能够完成芯片外观的检测过程,减少了人工操作,提高了工作效率,并可降低作业人员的劳动强度。 | ||
搜索关键词: | 本实用新型 封装芯片 检测装置 上料装置 卸料装置 芯片 检测机 转盘式 分拣 支架 转盘 旋转驱动装置 转盘式结构 摄像头 摆盘装置 便于安装 分拣机构 工作效率 合格芯片 控制装置 驱动转盘 人工操作 检测 剔除 | ||
【主权项】:
1.一种转盘式封装芯片检测机,其特征在于,包括机架(1),所述机架(1)上设置有转盘(11)以及用于驱动所述转盘(11)转动的旋转驱动装置(12);控制装置,设置在所述机架(1)上;上料装置(2),设置在所述机架(1)上,所述上料装置(2)用于将待检测的芯片移送到转盘(11)上;检测装置(3),设置在所述机架(1)上,所述检测装置(3)包括设置在机架(1)上的第一支架(31)以及设置在第一支架(31)上的摄像头(32);分拣卸料装置,设置在所述机架(1)上,所述分拣卸料装置包括芯片摆盘装置以及用于剔除不合格芯片的分拣机构(5)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造