[实用新型]LED驱动芯片测量系统有效
| 申请号： | 201820274115.3 | 申请日： | 2018-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN207818161U | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 范文龙;廖加成;周卫伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市洲明科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R19/25 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 叶剑 |
| 地址： | 518101 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种LED驱动芯片测量系统，所述LED驱动芯片测量系统包括：ADC采样模块、MCU控制模块以及统计处理装置；所述ADC采样模块用于与所述LED驱动芯片连接，所述ADC采样模块还与所述MCU控制模块连接；所述MCU控制模块用于与所述LED驱动芯片连接，所述MCU控制模块还与所述统计处理装置连接。上述LED驱动芯片测量系统，通过MCU控制模块给LED驱动芯片提供正常工作所需的数据流；通过ADC采样模块收集LED驱动芯片正常工作时的数据，并将数据传输给MCU控制模块；通过MCU控制模块将数据处理后传输给统计处理装置；通过统计处理装置统计处理数据，以得到LED驱动芯片的相关电流参数。 | ||
| 搜索关键词： | 统计处理装置 测量系统 电流参数 数据处理 数据传输 统计处理 数据流 传输 | ||
【主权项】：
1.一种LED驱动芯片测量系统，用于测量LED驱动芯片的相关电流参数，其特征在于，所述LED驱动芯片测量系统包括：ADC采样模块、MCU控制模块以及统计处理装置；所述ADC采样模块用于与所述LED驱动芯片连接，所述ADC采样模块还与所述MCU控制模块连接；所述MCU控制模块用于与所述LED驱动芯片连接，所述MCU控制模块还与所述统计处理装置连接。
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