[实用新型]一种测试IC芯片的测试卡

摘要

本实用新型公开了一种测试IC芯片的测试卡，包括集成电路板和IC检测卡，IC检测卡安装在集成电路板中。该种测试IC芯片的测试卡，IC测试探针的一侧设有探针伸缩连接处，且探针伸缩连接处的内部设置有弹性弹簧，通过探针伸缩连接处有效的使IC测试探针与芯片进行灵活接触，当将芯片放置于检测卡上体中进行检测时，此时，探针伸缩连接处灵活进行伸缩，从而使IC测试探针对芯片的两侧进行金策并检测，进而适合不同芯片大小进行检测，检测卡上体与检测卡下体的交接处设有升降弹簧，且升降弹簧设置有两组，且升降弹簧均匀分布在检测卡上体与检测卡下体的前后，通过升降弹簧有效的对IC芯片检测进行有效缓冲。

主权项

1.一种测试IC芯片的测试卡，包括集成电路板(4)和IC检测卡(1)，其特征在于：所述IC检测卡(1)安装在集成电路板(4)中，所述集成电路板(4)的上表面设有测试电路开关(2)和中心处理单片(401)，所述测试电路开关(2)和中心处理单片(401)嵌入设置在集成电路板(4)上，所述集成电路板(4)的左侧设有数据导出连接端(3)，所述数据导出连接端(3)焊接在集成电路板(4)上，所述IC检测卡(1)包括检测卡上体(101)和检测卡下体(104)，所述检测卡上体(101)和检测卡下体(104)活动连接在IC检测卡(1)上，所述检测卡上体(101)的内壁设有IC测试探针(109)，所述IC测试探针(109)嵌入设置在检测卡上体(101)中，所述检测卡上体(101)的内部设有测试凹槽(1011)，所述测试凹槽(1011)嵌入设置在检测卡上体(101)中，所述检测卡上体(101)的两侧均设置有检测卡侧端(103)，所述检测卡侧端(103)嵌入设置在检测卡上体(101)中，所述检测卡侧端(103)的中部设有探针固定板(1031)，所述探针固定板(1031)嵌入设置在检测卡侧端(103)中，所述检测卡侧端(103)的下端设有探针下端(1032)，所述探针下端(1032)贯穿连接在检测卡侧端(103)中，所述检测卡下体(104)的上端设有导向杆(106)，所述导向杆(106)嵌入设置在检测卡下体(104)中，所述检测卡下体(104)的内部设有导电层(1041)，所述导电层(1041)嵌入设置在检测卡下体(104)中，所述检测卡下体(104)的四周均设有下体承接柱(1042)，所述下体承接柱(1042)嵌入设置在检测卡下体(104)上。