[实用新型]一种非接触式精密测量仪有效
申请号: | 201820375283.1 | 申请日: | 2018-03-20 |
公开(公告)号: | CN208366299U | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 周磊;钱琨;陈文红;张勇;尚哲;钟斌 | 申请(专利权)人: | 成都众鑫聚合科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 成都嘉企源知识产权代理有限公司 51246 | 代理人: | 胡林 |
地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种非接触式精密测量仪,包括安装柱和测量探头,测量探头连接在安装柱上,其改进之处在于:所述测量探头为非接触式传感器。本实用新型采用非接触的方式测量工件尺寸精度和形位公差精度,提高了测量精度和速度,同时适用范围更广。 | ||
搜索关键词: | 测量探头 本实用新型 精密测量仪 非接触式 安装柱 非接触式传感器 测量工件 形位公差 非接触 测量 改进 | ||
【主权项】:
1.一种非接触式精密测量仪,包括安装柱和测量探头,测量探头连接在安装柱上,其特征在于:所述测量探头为非接触式传感器;所述安装柱上连接有旋转动力输出装置,测量探头连接在旋转动力输出装置上,旋转动力输出装置带动测量探头旋转;所述旋转动力装置包括顶板、盒体、旋转动力控制模块、转动轴和动力源,转动轴和动力源相连,动力源与旋转动力控制模块相连,转动轴安装在盒体内壁上,顶板通过联结钉安装在盒体上,动力源控制转动轴转动,转动轴带动盒体转动。
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