[实用新型]一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构有效
| 申请号： | 201820376921.1 | 申请日： | 2018-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN208421157U | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 覃昱华 | 申请（专利权）人： | 上海季丰电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构，包括老化测试设备；所述老化测试设备内部由PCB、铜柱和接口板组成，所述PCB和铜柱连接接口板，并通过接口板提供相应待测芯片电压及信号。本老化板设计，不仅可以为测试板提供小电流电源和信号，满足不同芯片的测试需求，并且所述老化板可独立供给大电流，以应对不同芯片测试需求，方便将各种芯片进行整合测试，该老化板不仅适用现有LM2100老化测试设备，而且可以扩展满足不同测试设备，使用这种老化板可以降低测试成本，充分提高老化板的测试范围，以应对不同芯片测试，并可加固老化板与测试机的连接。 | ||
| 搜索关键词： | 老化板 老化测试设备 可靠度测试 芯片测试 接口板 铜柱 芯片 本实用新型 测试成本 测试设备 测试需求 待测芯片 连接接口 整合测试 测试板 测试机 大电流 小电流 电源 测试 | ||
【主权项】：
1.一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构，包括老化测试设备（4），其特征在于：所述老化测试设备（4）的内部由PCB（1）、铜柱（2）和接口板（5）组成，所述PCB（1）上侧的面板上开设有通孔（3），PCB（1）上方设置有铜柱（2），所述铜柱（2）的一端嵌入在通孔（3）内，铜柱（2）的另一端固定连接有接口板（5）。
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