[实用新型]轴瓦半圆周长高出度测量装置有效

专利信息
申请号: 201820425441.X 申请日: 2018-03-27
公开(公告)号: CN208333304U 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 刘江省;郎岩梅 申请(专利权)人: 山东道先为智能科技有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 青岛发思特专利商标代理有限公司 37212 代理人: 张洪艳;巩同海
地址: 255086 山东省淄博市高新区*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型涉及一种轴瓦质检装置,具体涉及一种轴瓦半圆周长高出度测量装置,包括底座、定位块、可控压力机构、位移测量件、显示器和控制芯片,底座对应被测轴瓦设置一半圆形容置凹槽,容置凹槽的一端设置定位块,容置凹槽另一端设置可控压力机构,可控压力机构包括支撑块、中空的压块、螺杆、压力手柄和压力传感器,支撑块与底座固定连接,支撑块和底座之间设置压块,压块内部设置压力传感器,螺杆贯穿压块顶面延伸至压块内部,压块内部底面固定压力传感器,压块外表面固定连接位移测量件,位移测量件安装在压块上压力传感器和显示器均与控制芯片相连。本实用新型可实现轴瓦测量压力的定量控制,确保测量精度和测量效率。
搜索关键词: 压块 轴瓦 底座 可控压力 位移测量 半圆 高出度测量装置 本实用新型 压力传感器 控制芯片 容置凹槽 一端设置 定位块 螺杆 显示器 周长 支撑 固定压力传感器 上压力传感器 测量效率 测量压力 定量控制 内部底面 内部设置 压块顶面 压力手柄 质检装置 中空的 测量 贯穿 延伸
【主权项】:
1.一种轴瓦半圆周长高出度测量装置,其特征在于,包括底座(1)、定位块(2)、可控压力机构(5)、位移测量件(7)、显示器和控制芯片,所述底座(1)对应被测轴瓦(3)设置一半圆形容置凹槽,容置凹槽的一端设置定位块(2),定位块(2)与底座(1)接触面与容置凹槽相交,容置凹槽另一端设置可控压力机构(5),所述可控压力机构(5)包括支撑块(9)、中空的压块(4)、螺杆(10)、压力手柄(6)和压力传感器(8),所述支撑块(9)与底座(1)固定连接,支撑块(9)和底座(1)之间设置压块(4),压块(4)内部设置压力传感器(8),螺杆(10)贯穿压块(4)顶面延伸至压块(4)内部,压块(4)内部底面固定压力传感器(8),压块(4)外表面固定连接位移测量件(7),所述位移测量件(7)安装在压块(4)上,位移测量件(7)的测量探头与底座(1)基准面接触,压力传感器(8)和显示器均与控制芯片相连。
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