[实用新型]实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路有效

专利信息
申请号: 201820539153.7 申请日: 2018-04-16
公开(公告)号: CN208060025U 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 刘圣;齐淑霞;韩磊;李鹏;章毅;赵建林 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00;G01J4/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 王鲜凯
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型涉及实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路,为完成基于几何相位理论提出了同时测量任意光束的偏振态和相位的方法,本光路包括消偏振分光棱镜和偏振分束系统;参考光束和被测量光束分别从消偏振分光棱镜的两个正交方向输入,消偏振分光棱镜的射出光路上设有偏振分束系统,偏振分束系统的输出得到两幅干涉图。在得到的两幅干涉图基础上,实施同时测量任意光束的偏振态和相位的方法时,只需一次同时采集两幅干涉图,通过对干涉图进行全息数值重建,提取其中的相位、振幅信息,即可计算出被测量光束的偏振和相位分布。本实用新型不仅可用于测量任意光束的偏振态和相位分布,也可用于检测偏振光学元件。
搜索关键词: 干涉图 偏振态 测量 消偏振分光棱镜 偏振分束 光路 本实用新型 测量光束 相位分布 可用 偏振光学元件 参考光束 几何相位 数值重建 振幅信息 正交方向 射出光 全息 偏振 采集 输出 检测
【主权项】:
1.一种实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路,其特征在于包括消偏振分光棱镜(1)和偏振分束系统(2);参考光束和被测量光束分别从消偏振分光棱镜(1)的两个正交方向输入,消偏振分光棱镜(1)的射出光路上设有偏振分束系统(2),偏振分束系统(2)的输出得到两幅干涉图。
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