[实用新型]浅沟槽隔离结构有效
申请号: | 201820569988.7 | 申请日: | 2018-04-20 |
公开(公告)号: | CN208298809U | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 上海市锦天城律师事务所 31273 | 代理人: | 何金花 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型提供一种浅沟槽隔离结构,该浅沟槽隔离结构包括:一半导体基底,具有一基底上表面,半导体基底的基底上表面上设有深宽比介于10~30的至少一个隔离沟槽,用以界定出晶体管的有源区,隔离沟槽具有沟槽底部和沟槽侧壁,沟槽侧壁以非垂直的倾斜角度连接沟槽底部和基底上表面;反应内衬层,设于半导体基底上,反应内衬层覆盖所述沟槽底部、沟槽侧壁和基底上表面;沉积内衬层,设于反应内衬层上,沉积内衬层的厚度变异差值大于反应内衬层的厚度变异差值,以使沉积内衬层内有内应力;隔离填充体,设于隔离沟槽内的沉积内衬层上。本实用新型有效地避免了有源区域倒塌的发生,且可以避免空洞产生,提高晶圆产品良率。 | ||
搜索关键词: | 内衬层 基底上表面 沉积 浅沟槽隔离结构 半导体基底 隔离沟槽 沟槽侧壁 本实用新型 厚度变异 角度连接 晶圆产品 非垂直 晶体管 深宽比 填充体 有效地 源区域 界定 良率 源区 空洞 倒塌 隔离 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种浅沟槽隔离结构,其特征在于,包括:一半导体基底,具有一基底上表面,所述半导体基底的所述基底上表面上设有深宽比介于10~30的至少一个隔离沟槽,用以界定出晶体管的有源区,所述隔离沟槽具有沟槽底部和沟槽侧壁,所述沟槽侧壁以非垂直的倾斜角度连接所述沟槽底部和所述基底上表面;反应内衬层,设于所述半导体基底上,所述反应内衬层覆盖所述沟槽底部、所述沟槽侧壁和所述基底上表面;沉积内衬层,设于所述反应内衬层上,所述沉积内衬层的厚度变异差值大于所述反应内衬层的厚度变异差值,以使所述沉积内衬层内有内应力;隔离填充体,设于所述隔离沟槽内的所述沉积内衬层上,所述隔离填充体具有与所述沉积内衬层内有的所述内应力相反方向的固化应力。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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