[实用新型]一种IC功能测试座

摘要

本实用新型公开了一种IC功能测试座，包括底座、上盖、卡扣、双头探针、卡块、铰链，所述上盖底部设有铰链，铰链与上盖为螺纹连接，所述铰链底部设有底座，底座与铰链为螺纹连接，所述上盖顶部设有卡扣，卡扣与上盖为固定连接，所述双头探针内部设有弹簧，弹簧与双头探针为镶嵌连接，所述弹簧顶部设有上探针，上探针与弹簧为电性连接，所述弹簧顶部设有下探针，下探针与弹簧为电性连接，所述底座表面设有卡块，卡块与底座为镶嵌连接，该一种IC功能测试座，通过在设备上设有双头探针，双头探针有利于减少孔板，可以便于探针组装、更换、维修，阻抗较小，可确保导通，有较好的通讯频率，同时提高了测试的精确度，本新型结构成本低，易于推广使用。

主权项

1.一种IC功能测试座，包括底座(1)、上盖(2)、卡扣(4)、双头探针(7)、弹簧(71)、上探针(72)、下探针(73)、卡块(8)、铰链(9)，其特征在于：所述上盖(2)底部设有铰链(9)，铰链(9)与上盖(2)为螺纹连接，所述铰链(9)底部设有底座(1)，底座(1)与铰链(9)为螺纹连接，所述上盖(2)顶部设有卡扣(4)，卡扣(4)与上盖(2)为固定连接，所述双头探针(7)内部设有弹簧(71)，弹簧(71)与双头探针(7)为镶嵌连接，所述弹簧(71)顶部设有上探针(72)，上探针(72)与弹簧(71)为电性连接，所述弹簧(71)顶部设有下探针(73)，下探针(73)与弹簧(71)为电性连接，所述底座(1)表面设有卡块(8)，卡块(8)与底座(1)为镶嵌连接。