[实用新型]芯片检测座接口结构

摘要

本实用新型为一种芯片检测座接口结构，连接测试机(ATE,Automatic Test Equipment)及芯片待测物的薄膜芯片传送机(Handler)。其结构包含一基座，及一个浮动机构，此浮动机构架设于固定基座上，整组机构是架在测试机上，且整组测试机与连接接口机构会滑进薄膜芯片传送机(Handler)内。该浮动机构上设置数个弹簧组件，故当滑进薄膜芯片传送机(Handler)时会自我调整达到定位效果。

主权项

1.一种芯片检测座接口结构，其特征在于，其结构包含：一基座；一第一浮动件，其设置于该基座上，且该第一浮动件为中空的形状；以及一第二浮动件，其设置于该第一浮动件之上，且使用数个支撑柱及数个弹簧连接该第一浮动件与该第二浮动件间，该些支撑柱底端固定设置于该第一浮动件上，该些支撑柱顶端穿过设置于该第二浮动件上，并滑动于该第二浮动件的相对应的数个滑动孔，该些支撑柱的顶端设置一挡止部，该挡止部设置于该第二浮动件之上；该些弹簧套于该些支撑柱内且于该第一浮动件与该第二浮动件之间，使该第二浮动件受力压缩该些弹簧时产生向该第一浮动件的位移。