[实用新型]一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准A型试块有效

专利信息
申请号: 201820614034.3 申请日: 2018-04-26
公开(公告)号: CN208366915U 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 朱琪;孙磊;郑良华;葛广林;陈永安;樊传琦;王文科;许文超 申请(专利权)人: 安徽津利能源科技发展有限责任公司;中国能源建设集团安徽电力建设第一工程有限公司;中国能源建设集团有限公司工程研究院
主分类号: G01N29/22 分类号: G01N29/22
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 赵瑜;金凯
地址: 230000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型属于无损检测领域,具体涉及一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准A型试块,包括试块主体以及设置在试块主体上的两组人工反射体和两个探头标记;所述两个探头标记刻蚀于试块主体上表面,两组人工反射体是分别以两个探头标记为圆心,分别以50mm和25mm为半径的圆弧上的通孔;同一组内人工反射体之间的间隔≥2.5°,角度范围0~85°;最靠近试块主体上表面的人工反射体与试块主体的侧边界距离≥25mm,两个探头标记之间的距离≥探头与试块接触面的长度;所述半径为50mm圆弧上人工反射体的直径为2mm,所述半径为25mm圆弧上人工反射体的直径为1mm。可用于扇扫角度分辨力、扇扫角度范围测量误差、短缺陷分辨力的校准,方便快捷。
搜索关键词: 试块 人工反射体 探头标记 校准 探头 相控阵超声 主体上表面 系统性能 两组 本实用新型 角度分辨力 边界距离 范围测量 无损检测 圆心 可用 刻蚀 通孔 分辨
【主权项】:
1.一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准A型试块,其特征在于:包括试块主体(1)以及设置在试块主体(1)上的两组人工反射体(2)和两个探头标记(3);所述两个探头标记(3)刻蚀于试块主体(1)上表面,两组人工反射体(2)是分别以两个探头标记(3)为圆心,分别以50mm和25mm为半径的圆弧上的通孔;同一组内人工反射体(2)之间的间隔≥2.5°,以垂直于试块主体(1)上表面为0°记,角度范围0~85°;最靠近试块主体(1)上表面的人工反射体(2)与试块主体(1)的侧边界距离≥25mm,两个探头标记(3)之间的距离≥探头与试块接触面的长度;所述半径为50mm圆弧上人工反射体(2)的直径为2mm,所述半径为25mm圆弧上人工反射体(2)的直径为1mm。
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