[实用新型]一种芯片多工位测试系统有效
| 申请号： | 201820636942.2 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN208780782U | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | 张术利 | 申请（专利权）人： | 上海利扬创芯片测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 刘克宽 |
| 地址： | 201800 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种芯片多工位测试系统，包括依次电连接的主控装置、测试机和多工位探针卡，所述多工位探针卡用于放置被测芯片，所述测试机根据主控装置所设定的程序产生频率信号传至多工位探针卡上的被测芯片，使被测芯片处于某个频段，还设有电连接多工位探针卡的信号处理器，其用于处理来自放置在多工位探针卡上的被测芯片的数据，信号处理器接收到来自多工位探针卡的被测芯片数据后，将数据同时进行计算处理，再将得出的结果与预设的值进行比较，使多个芯片能在不同频率下同时进行测试，提高了芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 探针卡 被测芯片 多工位 芯片 多工位测试 信号处理器 主控装置 测试机 电连接 本实用新型 测试效率 程序产生 计算处理 频率信号 频段 工位 预设 测试 | ||
【主权项】：
1.一种芯片多工位测试系统，包括依次电连接的主控装置、测试机和多工位探针卡，所述多工位探针卡用于放置被测芯片，其特征是：还设有电连接多工位探针卡的信号处理器。
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