[实用新型]一种Flash芯片测试系统有效
| 申请号： | 201820637718.5 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN208172174U | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 张术利 | 申请（专利权）人： | 上海利扬创芯片测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 刘克宽 |
| 地址： | 201800 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种Flash芯片测试系统，其特征是：包括计算机和连接计算机的测试机，所述测试机设有多个测试头，每个测试头接有一个探针台，每个探针台设有一个用于电连接被测芯片的探针卡，测试机利用多个测试头对放在探针卡上的被测芯片同时进行测试，从而能节省测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试机 测试头 被测芯片 测试系统 探针卡 探针台 本实用新型 测试 测试效率 电连接 计算机 | ||
【主权项】：
1.一种Flash芯片测试系统，其特征是：包括计算机和连接计算机的测试机，所述测试机设有多个测试头，每个测试头接有一个探针台，每个探针台设有一个用于电连接被测芯片的探针卡。
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