[实用新型]一种用于光电传感器的测试装置有效
| 申请号： | 201820652812.8 | 申请日： | 2018-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN208187440U | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | 高小飞 | 申请（专利权）人： | 苏州迪安电子有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于光电传感器的测试装置，属于传感器技术领域。设置用于对光电传感器进行测试的测试装置，所述测试装置设置有测试框架，所述测试框架中设置有测试模块，所述测试框架里设置用于放置光电传感器的测试底座，所述测试底座呈矩形结构，所述测试底座上设置有多个放置槽，所述光电传感器放置于所述放置槽中，所述放置槽从前至后一直贯穿整个测试底座，所述放置槽里设置有固定装置。本实用新型的有益之处是：通过放置槽放置待检测的光电传感器，通过固定装置将光电传感器固定到放置槽里，以方便后续的测试，本实用新型结构新颖，操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 光电传感器 放置槽 测试底座 测试装置 本实用新型 测试框架 固定装置 传感器技术领域 测试 测试模块 从前至后 矩形结构 贯穿 检测 | ||
【主权项】：
1.一种用于光电传感器的测试装置，设置用于对光电传感器（1）进行测试的测试装置（2），所述测试装置（2）设置有测试框架（210），所述测试框架（210）中设置有测试模块（220），所述测试框架（210）里设置用于放置光电传感器（1）的测试底座（230），其特征在于：所述测试底座（230）呈矩形结构，所述测试底座（230）上设置有多个放置槽（240），所述光电传感器（1）放置于所述放置槽（240）中，所述放置槽（240）从前至后一直贯穿整个测试底座（230），所述放置槽（240）上设置有固定装置（3）。
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