[实用新型]一种测试装置及系统有效

专利信息
申请号: 201820667078.2 申请日: 2018-05-03
公开(公告)号: CN208384003U 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 钱芳斌;邓恩华 申请(专利权)人: 中山市江波龙电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 代理人: 宋建平
地址: 528400 广东省中*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及存储测试技术领域,公开了一种测试装置及系统,所述的测试装置用于存储设备的多功能测试,所述测试装置包括至少一个下位机,每个所述下位机包括:单板,分别与上位机及所述存储设备通信连接,用于接收并执行所述上位机发送的测试指令,并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果;测量模块,与所述单板通过统一接口连接,用于接收来自所述单板的测试指令,以实现对所述存储设备的多功能测试。通过上述方式,本实用新型能够实现存储设备的多功能测试,提高测试效率,降低测试成本。
搜索关键词: 存储设备 多功能测试 测试装置 上位机 单板 本实用新型 测试指令 下位机 测量模块 测试成本 测试效率 存储测试 通信连接 统一接口 发送 返回
【主权项】:
1.一种测试装置,其特征在于,用于存储设备的多功能测试,所述测试装置包括至少一个下位机,每个所述下位机包括:单板,分别与上位机及所述存储设备通信连接,用于接收并执行所述上位机发送的测试指令,并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果;测量模块,与所述单板通过统一接口连接,用于接收来自所述单板的测试指令,以实现对所述存储设备的多功能测试。
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