[实用新型]基于紫外电子轰击有源像素传感器的紫外成像仪有效

专利信息
申请号: 201820702525.3 申请日: 2018-05-11
公开(公告)号: CN208155458U 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 杨阳;曹伟伟;王博;白永林;秦文强;陈震;徐鹏;朱炳林;缑永胜;高佳瑞;白晓红;秦君军 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/00;G02B1/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 杨引雪
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种基于紫外电子轰击有源像素传感器的紫外成像仪,解决了现有紫外成像仪灵敏度低、噪声大、成本高、结构复杂、体积重量较大等问题。该紫外成像仪包括光机系统、紫外电子轰击有源像素传感器、高压选通脉冲模块、读出电子学系统、图像处理与控制系统;光机系统包括成像镜头和滤波片;高压选通脉冲模块分别与紫外电子轰击有源像素传感器、图像处理与控制系统连接;读出电子学系统分别与紫外电子轰击有源像素传感器、图像处理与控制系统连接;紫外电子轰击有源像素传感器包括阴极窗口、紫外光电阴极、管壳和背照式CMOS芯片;紫外光电阴极设置在阴极窗口的内表面;背照式CMOS芯片设置在管壳内部。
搜索关键词: 电子轰击 源像素 传感器 紫外成像仪 控制系统 图像处理 阴极 紫外光电阴极 电子学系统 光机系统 选通脉冲 背照式 读出 本实用新型 成像镜头 管壳内部 灵敏度 滤波片 内表面 管壳 噪声
【主权项】:
1.一种基于紫外电子轰击有源像素传感器的紫外成像仪,其特征在于:包括光机系统(1)、紫外电子轰击有源像素传感器(2)、高压选通脉冲模块(3)、读出电子学系统(4)、图像处理与控制系统(5);所述光机系统(1)包括成像镜头(11)和滤波片(12),图像处理与控制系统(5)控制完成成像镜头(11)的变焦和滤波片(12)的切换;所述高压选通脉冲模块(3)分别与紫外电子轰击有源像素传感器(2)、图像处理与控制系统(5)连接,实现紫外电子轰击有源像素传感器(2)对紫外增强探测和可见光探测工作模式的切换;所述读出电子学系统(4)分别与紫外电子轰击有源像素传感器(2)、图像处理与控制系统(5)连接;所述紫外电子轰击有源像素传感器(2)包括阴极窗口(21)、紫外光电阴极(22)、管壳(23)和背照式CMOS芯片(24);所述阴极窗口(21)设置在管壳(23)的一端,并与管壳(23)形成真空腔体;所述紫外光电阴极(22)设置在阴极窗口(21)的内表面;所述滤波片(12)位于成像镜头(11)和阴极窗口(21)之间,使经过成像镜头(11)的光线均能经过滤波片(12);所述背照式CMOS芯片(24)设置在管壳(23)内部,并与紫外光电阴极(22)平行设置;所述背照式CMOS芯片(24)包括由上至下依次设置的表面钝化层(241)、扩散层(242)、读出电路层(243)和衬底层(244);所述管壳(23)底部设有电信号通路(25),所述电信号通路(25)分别与背照式CMOS芯片(24)、读出电子学系统(4)连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201820702525.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top