[实用新型]一种半导体晶圆裂片自动去边缘装置有效
申请号: | 201820708407.3 | 申请日: | 2018-05-14 |
公开(公告)号: | CN208240625U | 公开(公告)日: | 2018-12-14 |
发明(设计)人: | 汪良恩;胡成圆 | 申请(专利权)人: | 安徽安芯电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 董泽宇 |
地址: | 247100 安徽省池州市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种半导体晶圆裂片自动去边缘装置,涉及半导体晶圆制造领域,包括本体,气缸贯穿本体顶部且连接在本体上,压片装置与气缸的活塞杆连接,承片装置连接在本体中部开口处的下底面上,承片装置的中心设置有与芯片上的晶粒位置排列相同的承片台,承片台的外侧设置有定位柱,台圈设置在承片台的外围,其初始位置与承片台在同一水平面且在与承片台和定位柱对应位置设置有通孔,弹簧设置在定位柱上,台圈能够在定位柱上上下运动,所述压片装置的底面为压面,压面在对应位置开有承片台通孔和定位柱通孔。本实用新型能够解决去芯片边缘人工成本高和耗费时间长以及容易误操作将晶粒一起去掉的问题。 | ||
搜索关键词: | 承片台 定位柱 半导体晶圆 通孔 边缘装置 压片装置 承片 裂片 气缸 台圈 压面 本实用新型 活塞杆连接 同一水平面 晶粒位置 人工成本 上下运动 外侧设置 芯片边缘 中部开口 中心设置 装置连接 晶粒 误操作 弹簧 底面 外围 芯片 贯穿 制造 | ||
【主权项】:
1.一种半导体晶圆裂片自动去边缘装置,其特征在于,包括本体(1),气缸(2)贯穿本体(1)顶部且连接在本体(1)上,压片装置(3)与气缸(2)的活塞杆(21)连接,承片装置(4)连接在本体(1)中部开口处的下底面上,承片装置(4)的中心设置有与芯片上的晶粒位置排列相同的承片台(43),承片台(43)的外侧设置有八个定位柱(41),定位柱(41)比承片台(43)高,台圈(42)设置在承片台(43)的外围,其初始位置与承片台(43)在同一水平面且在与承片台(43)和定位柱(41)对应位置设置有通孔,台圈(42)的内壁和承片台(43)的外壁完全贴合,弹簧(411)设置在定位柱(41)上,台圈(42)能够在定位柱(41)上上下运动,所述压片装置(3)的底面为压面(32),压面(32)在对应位置开有承片台通孔(33)和定位柱通孔(31)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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