[实用新型]一种小型化的电测测试架有效

专利信息
申请号: 201820826793.6 申请日: 2018-05-30
公开(公告)号: CN208239490U 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 杨书军;文永兴;文继昌;陈国豪;耿艳平 申请(专利权)人: 深圳市华旭达精密电路科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙) 44251 代理人: 刘汉民
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种小型化的电测测试架,包括测试架、支架,所述测试架的尺寸为L*W*H=200*150*(80~120)mm,所述支架包括面板、可调节高度的柱脚,所述面板中心开设有与测试架对应的容置口,所述柱脚设于面板的四角,所述面板通过容置口套放在测试架外侧,并通过调节柱脚的高度使面板上表面与测试架顶面齐平。本实用新型将测试架小型化后,在测试架的外侧套放了一个支架,并通过调节柱脚的高度使面板上表面与测试架顶面齐平,使得整个测试架的测试平面具有一个较大承载面积,产品放置其上不会出现折弯现象,即满足了测试要求,也对产品具有一定的防护作用。本实用新型除了可以减少测试架的成本外,还可以较少测试架的存储空间,节省车间面积。
搜索关键词: 测试架 柱脚 支架 本实用新型 面板上表面 顶面齐平 容置口 电测 测试平面 测试要求 产品放置 存储空间 防护作用 面板中心 大承载 可调节 套放 折弯 车间
【主权项】:
1.一种小型化的电测测试架,其特征在于:包括测试架、支架,所述测试架的尺寸为L*W*H=200*150*(80~120)mm,所述支架包括面板、可调节高度的柱脚,所述面板中心开设有与测试架对应的容置口,所述柱脚设于面板的四角,所述面板通过容置口套放在测试架外侧,并通过调节柱脚的高度使面板上表面与测试架顶面齐平。
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