[实用新型]一种大功率芯片恒温老化测试系统

摘要

本实用新型提供了一种大功率芯片恒温老化测试系统，包括控制装置和恒温老化测试装置，所述控制装置位于所述恒温老化测试装置的上方，所述控制装置包括壳体，所述壳体内居中的设有控制模块，所述控制模块的一侧设有时钟模块，本实用新型恒温老化测试装置的外框架内设有一对恒温老化测试仓，同时恒温老化测试仓内设有多个恒温老化测试槽，可实现大功率芯片的多通道集中老化测试，控制模块控制大功率恒流源恒流输出测试信号，同时散热器保持老化板的老化测试温度恒定，从而保证了大功率芯片的多通道集中恒温老化测试，并且老化板与外框架可拆卸的连接，满足了不同规格型号芯片的恒温老化测试，适用性强，老化效果好。

主权项

1.一种大功率芯片恒温老化测试系统，其特征在于：包括控制装置和恒温老化测试装置，所述控制装置位于所述恒温老化测试装置的上方，所述控制装置包括壳体，所述壳体内居中的设有控制模块，所述控制模块的一侧设有时钟模块，所述控制模块的另一侧设有按键模块，所述壳体的正面外侧设有液晶显示屏，所述液晶显示屏的一侧设有按键区域和指示灯，所述指示灯位于所述按键区域的上方，所述按键区域包括电源键、状态控制键、电流设定键、温度设定键和时间设定键，所述电源键、所述状态控制键、所述电流设定键、所述温度设定键和所述时间设定键均与所述按键模块电性连接，所述壳体的背面设有若干散热孔，所述恒温老化测试装置包括外框架，所述控制装置与所述外框架的顶部相连接，所述外框架内设有一对恒温老化测试仓，所述恒温老化测试仓内均匀的设有若干隔板，若干所述隔板将所述恒温老化测试仓分为若干恒温老化测试槽，所述隔板位于所述恒温老化测试槽的底部，所述隔板的上方设有散热器，所述散热器的顶部设有温度探头，于所述散热器上方的所述外框架的内侧壁设有插槽，所述插槽内插设有老化板，所述老化板位于所述温度探头的上方，所述老化板的顶部正面侧设有若干放置槽，所述放置槽内放置待测芯片，所述老化板的顶部居中的设有大功率恒流源，所述大功率恒流源的正面侧设有一对向外凸起的固定块，所述固定块上设有固定轴，所述固定轴上套设有若干测试头，所述测试头的位置与数量均和所述放置槽相对应，所述测试头包括转动块和测试探针，所述转动块可转动的套设于所述固定轴上，所述测试探针与所述转动块的底部相连接，所述大功率恒流源通过导联线束与所述测试头相连接，所述导联线束的一端与所述大功率恒流源的输出口相连接，所述导联线束的另一端贯穿所述转动块并与所述测试探针电性相连，所述老化板的顶部背面侧设有连接件，所述连接件的一端与所述大功率恒流源的背面侧相连接，所述连接件的另一端与所述控制模块电性相连，所述大功率恒流源通过所述连接件与所述控制模块电连接，所述老化板的正面设有拉手，所述外框架的背面设有电源线，所述温度探头、所述时钟模块和所述按键模块均与所述控制模块的输入端相连接，所述控制模块的输出端分别连接所述大功率恒流源、所述散热器、所述指示灯和所述液晶显示屏，所述电源线连接外部电源，所述外部电源为系统提供工作电压。