[实用新型]用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置

摘要

本专利公开了一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置。立方棱镜光校装置采用一个立方棱镜办法折转两束激光束成180度夹角，实现了望远镜光学系统光轴与参考标准平面镜法线平行的初始调节；再采用两块平行平板的平行关系，解决了望远镜光轴与参考平面镜法线平行的高精度精密调节。本专利攻克了望远镜装调过程光轴漂移引起像质变化的难题，实现了被测试系统状态的实时高精度监控，光路结构简单，粗调与精调相结合，大大提高了光校效率。采用本专利所述的光校装置，不仅适用望远镜光学系统光轴与标准平面镜法线的配准与实时监测，还适用于标定相对的两块反射镜面的夹角、两块光学平板的夹角等其它光校领域。

主权项

1.一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置，包括一号激光二极管(1)，二号激光二极管(2)，一号准直透镜(3)，二号准直透镜(4)，一号平行平板(5)，二号平行平板(6)，立方棱镜(7)，辅助装置光电自准直仪(8)，其特征在于：所述的立方棱镜光校装置位于望远镜测试装置光路中间，左侧为带有光轴基准镜的反射式或透射式望远镜，右侧为参考平面镜，分别位于一号准直透镜(3)和二号准直透镜(4)焦面位置的一号激光二极管(1)和二号激光二极管(2)出射准直激光到立方棱镜(7)的A和B面上，透射一号平行平板(5)和二号平行平板(6)，形成异向的接近180度的两束激光，分别到达望远镜光学系统的光轴基准镜上与测试参考平面镜上，调整本装置的角度，使到光学系统的光轴基准镜的激光光束原路返回到号激光二极管(1)出射口，再调整测试参考平面镜，使得入射至参考平面镜的激光光束反射后原路返回二号激光二极管(2)出射口；辅助测试设备光电自准直仪(8)出射十字叉丝激光，同时入射到立方棱镜(7)的D和C面上，反射后分别透射过平行度优于3秒的一号平行平板(5)和二号平行平板(6)，形成180度的两束平行光，分别到达望远镜光学系统的光轴基准镜与测试参考平面镜，返回进入光电自准直仪(8)，调整本装置和测试参考平面镜，使得光电自准直仪(8)中，望远镜光学系统光轴基准镜返回来的十字叉丝，测试参考平面镜返回来的十字叉丝，本立方棱镜光校装置本身的十字叉丝，三个十字叉丝重合，即完成了光学系统光轴与标准平面镜法线的配准与监测。