[实用新型]一种紫外发光二极管的外延结构有效

专利信息
申请号: 201820983049.7 申请日: 2018-06-25
公开(公告)号: CN208352326U 公开(公告)日: 2019-01-08
发明(设计)人: 武良文 申请(专利权)人: 江西兆驰半导体有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/14;H01L33/00;H01L33/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 330000 江西省南昌市南昌高新技*** 国省代码: 江西;36
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种紫外发光二极管的外延结构,包括衬底以及依次位于所述衬底上的AlN缓冲层、非掺杂AlaGa1‑aN层、n型AlbGa1‑bN层、多量子阱层、pAlcGa1‑cN电子阻挡层、pAldGa1‑dN空穴导电层;其中:所述多量子阱层由复合垒层和AlxGa1‑xN阱层依次周期性堆叠而成,所述复合垒层由AlyGa1‑yN层和AluInvGa1‑u‑vN层以复合方式构成。本实用新型的优点在于:采用AlGaN/AlInGaN复合垒层代替传统的单层AlGaN垒层,一方面,由于AlInGaN的插入,可以降低有源区中垒层和阱层晶格常数差异导致的压电极化,从而增加载流子在阱层的复合效率;另一方面,控制AlInGaN层的厚度在一定范围之内,避免了单层AlInGaN所造成的晶体质量下降和相分离现象。
搜索关键词: 垒层 阱层 紫外发光二极管 本实用新型 多量子阱层 外延结构 复合 衬底 单层 载流子 空穴 晶格常数差异 电子阻挡层 周期性堆叠 复合方式 复合效率 压电极化 质量下降 传统的 导电层 非掺杂 相分离 源区
【主权项】:
1.一种紫外发光二极管的外延结构,包括衬底(1)以及依次位于所述衬底(1)上的AlN缓冲层(2)、非掺杂AlaGa1‑aN层(3)、n型AlbGa1‑bN层(4)、多量子阱层(5)、pAlcGa1‑cN电子阻挡层(6)、pAldGa1‑dN空穴导电层(7);其特征在于:所述多量子阱层(5)由复合垒层(501)和AlxGa1‑xN阱层(502)依次周期性堆叠而成,所述复合垒层(501)由AlyGa1‑yN层(5011)和AluInvGa1‑u‑vN层(5012)以复合方式构成,所述非掺杂AlaGa1‑aN层(3)中Al组分浓度为0
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江西兆驰半导体有限公司,未经江西兆驰半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201820983049.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

tel code back_top