[实用新型]用于密封圈老化寿命试验的测试装置有效

专利信息
申请号: 201820990109.8 申请日: 2018-06-26
公开(公告)号: CN208420367U 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 孙岗;滕明;陈允;崔博源;边智;韩占杰;孟理华;黄爽 申请(专利权)人: 中国航空综合技术研究所;国家电网有限公司;中国电力科学研究院有限公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院
主分类号: G01M13/005 分类号: G01M13/005
代理公司: 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 代理人: 韩燕
地址: 100028 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型属于机械装备可靠性与寿命测试技术领域,本实用新型涉及一种用于密封圈老化寿命试验的测试装置,其包括上板、下板和塞圈,塞圈包括第一塞圈和第二塞圈,上板的第一表面上设置有第一沟槽和定位孔,下板的第一表面上设置有第二沟槽和定位销,定位销与上板上的定位孔相互配合,第一沟槽的宽度与第二沟槽的宽度相等,在第二沟槽的第一侧壁设置第一塞圈且第二侧壁上设置第二塞圈,第一塞圈的直径小于第二塞圈的直径,上板和下板上分别设置定位角,上板设置有观察口,观察口沿着第一沟槽的直径方向设置,观察口沿着第一沟槽直径方向的尺寸大于第一沟槽的宽度,上板的第一沟槽内设置均匀分布的测试孔。
搜索关键词: 塞圈 上板 观察口 下板 密封圈 本实用新型 测试装置 第一表面 老化寿命 定位孔 定位销 直径方向设置 第二侧壁 第一侧壁 机械装备 宽度相等 寿命测试 测试孔 定位角 试验 配合
【主权项】:
1.一种用于密封圈老化寿命试验的测试装置,其特征在于:包括上板、下板和塞圈,所述塞圈包括第一塞圈和第二塞圈,所述上板的第一表面上设置有第一沟槽和第一定位结构,所述下板的第一表面上设置有第二沟槽和第二定位结构,所述第二定位结构与上板上的第一定位结构相互配合,所述第一沟槽的宽度与所述第二沟槽的宽度相等,在所述第二沟槽的第一侧壁设置所述第一塞圈,所述第二沟槽的第二侧壁上设置所述第二塞圈,且所述第一塞圈的直径小于所述第二塞圈的直径;所述上板和所述下板上分别设置定位角,所述上板设置有观察口,所述观察口上方设置防护罩,所述观察口沿着第一沟槽的直径方向设置且所述观察口沿着所述第一沟槽直径方向的尺寸大于所述第一沟槽的宽度,以及所述上板的第一沟槽内设置均匀分布的测试孔。
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