[实用新型]晶片表面颗粒物在线检测装置及晶片生产线有效

专利信息
申请号: 201821000149.X 申请日: 2018-06-27
公开(公告)号: CN208383753U 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 刘云龙;车星光;王志鹤;刘晓琴 申请(专利权)人: 东泰高科装备科技(北京)有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;吴欢燕
地址: 102200 北京市昌平*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及晶片在线检测设备技术领域,尤其涉及一种晶片表面颗粒物在线检测装置及晶片生产线。该装置能集成在晶片生产线上,装置包括:激光发射器用于向晶片发射原始激光束;激光转换组件设置在激光发射器和晶片之间,用于将原始激光束转变为线激光,以使线激光垂直的入射晶片的表面,该线激光用于对行进中的晶片的表面进行面扫描;信号接收器与原始激光束的入射方向相偏离,用于在线激光入射到晶片表面时,接收由晶片反射的反射激光。该装置利用线激光对行进中的晶片进行连续扫描以实现面扫描,从而实现晶片的连续不停滞的实时在线缺陷检测,且该装置能集成在生产线上,从而实现晶片缺陷的在线实时检测。
搜索关键词: 晶片 线激光 晶片生产线 原始激光束 在线检测装置 激光发射器 晶片表面 颗粒物 面扫描 入射 行进 在线检测设备 在线实时检测 本实用新型 信号接收器 反射激光 激光转换 晶片缺陷 连续扫描 缺陷检测 入射方向 实时在线 在线激光 组件设置 垂直的 反射 种晶 偏离 停滞 发射
【主权项】:
1.一种晶片表面颗粒物在线检测装置,其特征在于,包括:激光发射器,用于向晶片发射原始激光束;激光转换组件,设置在所述激光发射器和所述晶片之间,用于将所述原始激光束转变为线激光,以使所述线激光垂直地入射所述晶片的表面,所述线激光用于对行进中的所述晶片的表面进行面扫描;信号接收器,与所述原始激光束的入射方向相偏离,用于在所述线激光入射到所述晶片表面时,接收由所述晶片反射的反射激光。
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