[实用新型]一种用于探针接触类测试设备的测试装置有效
| 申请号： | 201821011877.0 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN208607350U | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 郭逦达;赖圣明;李新连;杨立红 | 申请（专利权）人： | 北京铂阳顶荣光伏科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/02 | 分类号： | G01R35/02 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 王刚 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于探针接触类测试设备的测试装置，包括测试电路板和绝缘层；测试电路板包括多个测试点，多个测试点用于测试被测探针组的接触性以及测试准确性；绝缘层设置于测试电路板的表面，绝缘层设置有与每个测试点位置对应的开孔以裸露每个所述测试点。本实用新型所述用于探针接触类测试设备的测试装置，测试电路板与探针的接触点裸露，其余部分有绝缘镀层，从而可以评估探针头的位置是否有偏差，以便于工作人员可以及时调整被测探针组的安装位置或更换探针。 | ||
| 搜索关键词： | 测试电路板 测试点 绝缘层 测试设备 测试装置 探针接触 本实用新型 探针 裸露 测试准确性 绝缘镀层 接触点 接触性 探针头 开孔 测试 评估 | ||
【主权项】：
1.一种用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括测试电路板(1)和绝缘层(12)；所述测试电路板(1)包括多个测试点(11)，多个所述测试点(11)用于测试被测探针组(7)的接触性以及测试准确性；所述绝缘层(12)设置于所述测试电路板(1)的表面，所述绝缘层(12)设置有与每个所述测试点(11)位置对应的开孔以裸露每个所述测试点(11)。
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