[实用新型]两用可拆式测试针结构有效

专利信息
申请号: 201821062945.6 申请日: 2018-07-05
公开(公告)号: CN208459454U 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 蔡伯晨;陈威助;吕彦辉;郑文瑛;谢健堉 申请(专利权)人: 中国探针股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨;李林
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型提供一种两用可拆式测试针结构,供以针对待测物进行电性检测,包含一本体及一检测接头。该本体一端具有至少一第一旋卡部,且该本体是中空,以供容置探针;检测接头是中空状,且检测接头的一端对应第一旋卡部设有至少一第二旋卡部,以使本体与检测接头可以旋转方式相互卡合组接或卸除,检测接头的另一端具有一电性接触部及一穿孔,穿孔供探针穿出,电性接触部则供与待测物接触以形成导通,如此可有效提升更换速率,并于组装后具备足够刚性与准直度而利于测试结构下压检测待测物电性状态。
搜索关键词: 待测物 检测 旋卡 电性接触部 测试针 可拆式 穿孔 探针 本实用新型 测试结构 电性检测 电性状态 下压检测 旋转方式 卡合组 中空状 准直度 中空 穿出 导通 容置 组装
【主权项】:
1.一种两用可拆式测试针结构,供以针对待测物进行电性检测,其特征是包含:一本体,其一端具有至少一第一旋卡部,且该本体是中空,以供容置探针;及一检测接头,是中空状,且该检测接头的一端对应该第一旋卡部设有至少一第二旋卡部,以使该本体与该检测接头能够以旋转方式相互卡合组接或卸除,该检测接头的另一端具有一电性接触部及一穿孔,该穿孔供探针穿出,该电性接触部则供与待测物接触以形成导通。
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