[实用新型]一种聚合物基介质阻挡放电等离子体激励器老化状态监测电路

摘要

公开一种聚合物基介质阻挡放电等离子体激励器老化状态监测电路，在聚合物基激励器的放电回路中放置串联电容，每间隔固定老化周期，测量激励器两端的电压和串联电容两端的电压，通过两组数据计算激励器在工作状态下由放电等离子体形成的虚拟电极和覆盖电极间的有效电容，获得有效电容随老化时间的变化规律；比较放电过程中某一时刻对应的有效电容和临近击穿前的有效电容，够定量评估聚合物基激励器的老化状态并估算出激励器的剩余寿命。本实用新型的监测电路构成简易，测试操作便捷，适用范围广，能够定量评估聚合物基激励器的老化状态并估算其剩余寿命，将为聚合物基介质阻挡放电等离子体激励器的放电安全提供有力保障。

主权项

1.一种聚合物基介质阻挡放电等离子体激励器老化状态监测电路，包括高压电源(101)、激励器(102)、串联电容(103)、高压探针(201)和电压探针(202)；其中高压电源(101)、激励器(102)、串联电容(103)通过串联的方式连接；高压电源(101)的高压输出端接激励器(102)的裸露电极(102‑2)，高压电源(101)的低压端接地，高压电源(101)的输出电压为0‑20kV；输出频率为1‑15kHz；串联电容(103)的一端接激励器(102)的覆盖电极(102‑3)，另一端接地，电容值为2nF‑47nF；高压探针(201)的高压端接高压电源(101)的高压输出端，高压探针(201)的另一端接地，用于测量高压电源(101)的输出电压；电压探针(202)一端接串联电容(103)的一端，另外一端接地，用于测量串联电容(103)两端的电压；激励器(102)的放电老化周期，即放电参数测量周期为0.5h‑5h。