[实用新型]在集成电路电子元器件测试中针对测试系统的监控系统有效
| 申请号： | 201821066304.8 | 申请日： | 2018-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN208350976U | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 周伟;尹诗龙;牛前犇;姚健;李晨阳 | 申请（专利权）人： | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人： | 韩登营;张焕亮 |
| 地址： | 100070 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种在集成电路电子元器件测试中针对测试系统的监控系统，包括依次连接的测试控制模块、测试驱动模块和测试系统；还包括：工作参数检测模块，与所述测试系统连接，用于在集成电路电子元器件量产阶段检测所述测试系统的工作状态；异常信息处理模块，与所述工作参数检测模块连接，用于进行故障判别，出现故障时向所述测试控制模块输出停止测试指令。由上，在量产测试过程中对测试系统进行实时监控，及时地监控到故障的发生，并停止测试，从而避免在故障状态下继续生产，最大程度减少被测IC器件的损坏，同时监控过程不影响测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试系统 集成电路电子 测试控制模块 工作参数检测 元器件测试 监控系统 测试驱动模块 信息处理模块 本实用新型 测试过程 测试指令 故障判别 故障状态 监控过程 量产阶段 模块连接 实时监控 输出停止 停止测试 依次连接 影响测试 量产 元器件 监控 检测 生产 | ||
【主权项】：
1.一种在集成电路电子元器件测试中针对测试系统的监控系统，包括依次连接的测试控制模块(202)、测试驱动模块(203)和测试系统(204)；其特征在于，还包括：工作参数检测模块(206)，与所述测试系统(204)连接，用于在集成电路电子元器件量产阶段检测所述测试系统的工作状态；异常信息处理模块(205)，与所述工作参数检测模块(206)连接，用于进行故障判别，出现故障时向所述测试控制模块(202)输出停止测试指令。
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