[实用新型]SOI基LSAMBM雪崩光电二极管有效

专利信息
申请号: 201821075444.1 申请日: 2018-07-09
公开(公告)号: CN208722891U 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 谢海情;彭永达;肖海鹏;陈玉辉;李洁颖 申请(专利权)人: 长沙理工大学
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/0392;H01L31/107;H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 410114 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 实用新型公开了一种SOI基LSAMBM雪崩光电二极管,包括SOI基片、SiO2氧化层以及电极A、K,SiO2氧化层设于SOI基片的表面,P型硅薄膜的一侧设有P+区,另一侧设有依次相邻布置的缓冲区、P倍增区以及N+区,P+区和缓冲区之间间隙中保留的P区构成吸收区,缓冲区包括掺杂浓度呈阶梯分布的至少两个缓冲区,电极A贯穿SiO2氧化层后与N+区接触导通,电极K贯穿SiO2氧化层后与P+区接触导通。本实用新型能够大大降低暗电流,有效减少寄生电容,提高频率响应,不存在边缘电场,可忽略曲率效应,能够降低雪崩过噪声,有效解决雪崩电压与频率响应之间的矛盾。
搜索关键词: 缓冲区 电极 雪崩光电二极管 本实用新型 接触导通 频率响应 边缘电场 寄生电容 阶梯分布 曲率效应 相邻布置 雪崩电压 有效减少 有效解决 暗电流 倍增区 硅薄膜 吸收区 贯穿 雪崩 噪声 掺杂 保留 矛盾
【主权项】:
1.一种SOI基LSAMBM雪崩光电二极管,其特征在于:包括SOI基片、SiO2氧化层以及电极A、K,所述SiO2氧化层设于SOI基片的表面,所述SOI基片包括依次层叠布置的P‑型衬底、SiO2层和P‑型硅薄膜,所述P‑型硅薄膜的一侧设有P+区,另一侧设有依次相邻布置的缓冲区、P倍增区以及N+区,所述P+区和缓冲区之间间隙中保留的P‑区构成吸收区,所述缓冲区包括掺杂浓度呈阶梯分布的至少两个缓冲区,所述电极A贯穿SiO2氧化层后与N+区接触导通,所述电极K贯穿SiO2氧化层后与P+区接触导通。
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