[实用新型]新型测试冶具有效
| 申请号： | 201821112577.1 | 申请日： | 2018-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN208334574U | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 葛文韬;黄小峰 | 申请（专利权）人： | 深圳市泰比特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 陈凯昆 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型测试冶具，包括SC6531芯片、PCB板和设置在PCB板上的USB接口，所述PCB板上设置有第一测试点、与USB接口连接的第二测试点、与USB接口连接的第三测试点、第四测试点和第五测试点，所述SC6531芯片的VCHG插脚与第一测试点电连接，SC6531芯片的DP插脚与第二测试点电连接，第一测试点与第一自锁开关一端连接，第一自锁开关另一端与USB接口连接，第四测试点与第二自锁开关一端连接，第二自锁开关另一端接地，第五测试点接地。解决了现有技术中存在的，对于SC6531芯片进行测试时需要剪线和焊线所导致的测试效率低的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试点 自锁开关 芯片 一端连接 接地 电连接 测试 插脚 冶具 本实用新型 测试效率 焊线 剪线 | ||
【主权项】：
1.一种新型测试冶具，其特征在于，包括SC6531芯片、PCB板和设置在PCB板上的USB接口，所述PCB板上设置有第一测试点、与USB接口连接的第二测试点、与USB接口连接的第三测试点、第四测试点和第五测试点，所述SC6531芯片的VCHG插脚与第一测试点电连接，SC6531芯片的DP插脚与第二测试点电连接，SC6531芯片的DM插脚与第三测试点电连接，SC6531芯片的TX插脚与第四测试点连接，SC6531芯片的GND插脚与第五测试点电连接，第一测试点与第一自锁开关一端连接，第一自锁开关另一端与USB接口连接，第四测试点与第二自锁开关一端连接，第二自锁开关另一端接地，第五测试点接地。
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