[实用新型]两孔空间交错的中心距检测装置有效

专利信息
申请号: 201821139551.6 申请日: 2018-07-18
公开(公告)号: CN208505202U 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 李妮;刘洋 申请(专利权)人: 成都华川电装有限责任公司
主分类号: G01B5/14 分类号: G01B5/14
代理公司: 重庆志合专利事务所(普通合伙) 50210 代理人: 胡荣珲
地址: 610106 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种两孔空间交错的中心距检测装置,包括基准定位轴件,基准定位轴件为从前到后依次设有测量轴段、定位轴段、限位凸缘的一体结构,定位轴段用于与待检工件上第一孔过渡配合,测量轴段直径小于定位轴段,限位凸缘直径大于定位轴段,限位凸缘前端为垂直于轴心线的限位端面;还包括设有通规的定心轴,通规位于定心轴的轴段上沿定心轴径向延伸且与定心轴为一体,通规下端为定心轴向下延伸的定位部,定位部用于与待检工件上第二孔配合定位,定心轴上过盈配合安装一止规,止规与通规交叉沿定心轴径向延伸,通规配合在止规下端设有让位凹槽中,止规和通规的下端面齐平。本检测装置体积小、结构简单、制造成本低,检测的精度、准确度高,使用简便快捷。
搜索关键词: 定心轴 通规 定位轴段 止规 限位凸缘 中心距检测装置 待检工件 基准定位 径向延伸 空间交错 测量轴 定位部 下端 轴件 过渡配合 过盈配合 检测装置 配合定位 让位凹槽 限位端面 向下延伸 一体结构 制造成本 准确度 体积小 下端面 轴心线 齐平 轴段 垂直 检测 配合
【主权项】:
1.一种两孔空间交错的中心距检测装置,包括基准定位轴件(5),其特征在于:所述基准定位轴件(5)为从前到后依次设有测量轴段(5‑1)、定位轴段(5‑2)、限位凸缘(5‑3)的一体阶梯轴结构,所述测量轴段(5‑1)、定位轴段(5‑2)、限位凸缘(5‑3)为同一轴心线,所述定位轴段(5‑2)用于与待检工件上的第一孔过渡配合形成基准定位,所述测量轴段(5‑1)直径小于定位轴段(5‑2)用于检测,所述限位凸缘(5‑3)直径大于定位轴段(5‑2)用于限位,所述限位凸缘(5‑3)的前端为限位端面(5‑3‑3),该限位端面(5‑3‑3)垂直于轴心线;还包括一设有通规(2)的定心轴(3),通规(2)位于定心轴(3)的轴段上,所述通规(2)沿定心轴(3)径向延伸,与定心轴(3)一体加工成型,所述通规(2)的下端为定心轴(3)向下延伸的定位部(3‑1),该定位部(3‑1)用于与待检工件上第二孔配合定位,所述定心轴(3)上安装一止规(1),所述止规(1)通过设置的中心通孔过盈配合在定心轴(3)上,所述止规(1)与通规(2)交叉,沿定心轴(3)径向延伸,所述止规(1)的下端设有让位凹槽(1‑1),使通规(2)配合在让位凹槽(1‑1)中,形成止规(1)和通规(2)的下端面齐平的结构。
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